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產(chǎn)品名稱： X- 射線熒光能譜儀產(chǎn)品型號： TFE000021產(chǎn)品時間： 2020-06-29
客服熱線：4008005586
Thermo Scientific ARL QUANTX EDXRF 光譜儀提供出色的痕量分析靈敏度，打破了1納米的檢測限瓶頸。專為滿足實驗室和制造環(huán)境中挑戰(zhàn)性的分析需求而設計，ARL QUANTX EDXRF 光譜儀的功能和靈活性可提高各種元素分析應用的分析量。能量色散 X 射線熒光 （EDXRF） 分析技術可通過簡易的樣品制備，實現(xiàn)主量、次量和痕量元素分析，所分析樣品范圍廣泛。
產(chǎn)品介紹
分析優(yōu)勢:
• 快速分析 F到U之間的元素
• 靈敏度從 <1 ppm -100%
• 多元素的測量時間10-60秒
• 多達8種的設置條件同時選擇，應用于各種樣品的多元素分析
• 通過 CCD 照相機顯示樣品影像
• 可調(diào)的X射線光斑直徑1- 15 mm，以便適應不同樣品大小
• *的電制冷Si(Li)檢測器技術和數(shù)字脈沖處理器技術
• Wintrace 多元化的 XRF 應用軟件，多個報告輸出選項
• 高級無標樣 厚度和涂層分析
• UniQuant 無標樣分析技術
• 機械持久性，可保證長期的*使用，占地面積小，機動性好
• 可以為客戶定制應用并在線升級， 易于安裝維護
探測器內(nèi)部的*技術
作為一個有著超過40年經(jīng)驗的X射線探測器制造商，本公司深入了解并定義了探測器性能的關鍵參數(shù)。經(jīng)歷了4代探測器的技術創(chuàng)新，硅鋰Si(Li)探測器成為ARL QUANT´ X 的心臟 ，提供了高靈敏度，速度和可靠性。
• 更低的晶體溫度提供了更佳的分辨率
• 更厚的晶體可獲得更佳的探測性能
• 大的晶體面積可獲得更佳的檢測下限
功能強大、易于使用的 WinTrace*軟件
• 無標和半無標分析
• 基本參數(shù) (FP) 和基于標樣的經(jīng)驗方法
• 多層厚度及成分
• 不限元素、不限數(shù)量的標樣
• 利用自動化操作實現(xiàn)多個激發(fā)條件
主要用途：
• 懸浮顆粒物過濾器
• 符合 RoHS 及 WEEE 的分析
• 法醫(yī)及痕量分析
• 營養(yǎng)補充劑
• 磁性介質(zhì)和半導體
• 土壤污染
• 過濾器上的薄膜
• 塑料中的有毒元素
| 產(chǎn)品料號 | 產(chǎn)品貨號 | *產(chǎn)品名稱 | *產(chǎn)品規(guī)格 |
| TFE000021 | TFE000021 | X- 射線熒光能譜儀 | VERSA STAR |
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